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Theorie & Grundlagen

Fortgeschrittene Messtechniken für HF- und Mikrowellenschaltungen

Beherrschen Sie wesentliche HF-Messtechniken einschließlich S-Parameter-Messungen, VNA-Bedienung, Zeitbereichsanalyse und Rauschcharakterisierung für Mikrowellenschaltungen.

Von der Basiskalibrierung bis zu fortgeschrittenen nichtlinearen Messungen deckt dieser Leitfaden die kritischen Techniken für eine genaue HF-Schaltungscharakterisierung und -validierung ab.

Test- & Messteam15 Min. Lesezeit

Einführung in HF- und Mikrowellenmessungen

Die genaue Messung von HF- und Mikrowellenschaltungen ist grundlegend für ein erfolgreiches Design und eine erfolgreiche Validierung. Wenn die Frequenzen in den Gigahertz-Bereich steigen, werden traditionelle Messansätze unzureichend, und spezialisierte Techniken sind erforderlich.

Messfrequenzbereiche

HF/VHF
3-300 MHz
Traditionelle Instrumente
UHF
300 MHz - 3 GHz
Spezialisierte Kalibrierung
Mikrowelle
3-30 GHz
VNA notwendig
mmWelle
30-300 GHz
Fortgeschrittene Sonden

Vektornetzwerkanalysator (VNA) - Grundlagen

Der Vektornetzwerkanalysator ist das Hauptinstrument für HF-Messungen und liefert sowohl Amplituden- als auch Phaseninformationen über weite Frequenzbereiche. Moderne VNAs können von DC bis über 100 GHz mit hohem Dynamikbereich und Genauigkeit messen.

Wichtige VNA-Spezifikationen

  • Frequenzbereich: DC bis 100+ GHz für mmWave-Anwendungen
  • Dynamikbereich: Typischerweise 100-130 dB für hohe Isolation
  • Spurenrauschen: Niedriges Rauschen für präzise Messungen
  • Messgeschwindigkeit: Schneller Sweep für Produktionstests

S-Parameter-Messungen und -Interpretation

S-Parameter (Streuparameter) beschreiben, wie HF-Energie durch ein Netzwerk propagiert, und sind grundlegend für die HF-Schaltungsanalyse. Die vier grundlegenden S-Parameter (S11, S12, S21, S22) repräsentieren Reflexions- und Transmissionscharakteristiken.

S-Parameter-Schnellreferenz

S11 (Eingangsreflexion)
  • < -10 dB: Gute Anpassung
  • < -20 dB: Ausgezeichnete Anpassung
  • VSWR = (1 + |S11|)/(1 - |S11|)
S21 (Vorwärtstransmission)
  • Einfügedämpfung = -20log|S21|
  • Gruppenlaufzeit = -dφ/dω
  • Verstärkung = 20log|S21| (Verstärker)

Kalibrierungstechniken und -standards

Die Kalibrierung beseitigt systematische Fehler bei VNA-Messungen, einschließlich Richtwirkung, Quellenanpassung und Reflexionsverfolgungsfehlern.

Kalibrierungsmethoden

SOLT

Kurzschluss-Offen-Last-Durchgang

Am besten für Koaxial

TRL

Durchgang-Reflexion-Leitung

Am besten für planar

LRRM

Leitung-Reflexion-Reflexion-Anpassung

Hybrid-Ansatz

Zeitbereichsmessungen und TDR

Die Zeitbereichsreflektometrie (TDR) liefert Einblicke in das physikalische Verhalten von Schaltungen durch Analyse von Reflexionen von Impedanzdiskontinuitäten. TDR-Messungen zeigen Ort und Größe von Impedanzvariationen entlang der Übertragungsleitungen.

  • Zeitbereichstransformation zeigt Impuls- und Sprungantworten
  • Identifizierung von Resonanzen, Diskontinuitäten und Kopplungseffekten
  • Gating entfernt unerwünschte Reflexionen, um sich auf bestimmte Elemente zu konzentrieren

Rauschzahl- und Rauschtemperaturmessungen

Die Rauschzahl charakterisiert die Verschlechterung des Signal-Rausch-Verhältnisses durch ein Gerät und ist kritisch für Empfängerempfindlichkeitsberechnungen. Die Y-Faktor-Methode mit einer kalibrierten Rauschquelle ist der Standardansatz.

Rauschmessungsreferenz

Rauschzahlberechnung:

NF = ENR + 10log((Y-1)/Y) + Loss_after

Typische Werte:

LNAs
0.5-2 dB
Mischer
6-12 dB
Dämpfungsglieder
= Dämpfung

Leistungsmessungen und Kalibrierung

Eine genaue Leistungsmessung ist entscheidend für die Charakterisierung von Verstärkern, Sendern und passiven Komponenten. Leistungssensoren umfassen Thermistorhalterungen, thermoelektrische Sensoren und Diodendetektoren, jeweils mit spezifischen Frequenzbereichen und Leistungsbehandlungsfähigkeiten.

Nichtlineare und Großsignalmessungen

Nichtlineare Messungen charakterisieren das Geräteverhalten unter Großsignalbedingungen und umfassen Kompressionspunkt-, Intermodulationsverzerrungs- und harmonische Verzerrungsmessungen.

Wichtige Nichtlineare Messungen

  • P1dB: 1-dB-Kompressionspunkt zeigt Beginn der Verstärkungskompression an
  • IMD: Zweiton-Intermodulation zeigt Störsignalerzeugung
  • Load-Pull: Leistung vs. variierende Lastimpedanzen
  • EVM: Fehlervektorbetrag für modulierte Signale

On-Wafer- und Messstationsmessungen

On-Wafer-Messungen ermöglichen die Charakterisierung von Bauelementen vor der Verpackung und bieten schnelleres Feedback während der Entwicklung. Messstationen mit Präzisionsmanipulatoren und stabiler Umgebungskontrolle sind für wiederholbare Messungen unerlässlich.

Best Practices für Sondenmessungen

  • Verwenden Sie Impedanzstandard-Substrat (ISS) für die Kalibrierung
  • Konstante Sondenkontaktkraft beibehalten
  • Temperatur auf ±1°C für stabile Messungen kontrollieren
  • Kürzest mögliche Sondenkabel verwenden
  • Sondenspitzenzustand regelmäßig überprüfen
  • Pad-Parasitäten de-embedden für genaue Charakterisierung

Häufige Messfallen

Fehlerbehebungsleitfaden

Problem: Schlechte Kalibrierungsgenauigkeit

  • Geeigneten Kalibrierungstyp für Messung verwenden
  • Stecker- und Kabelzustand überprüfen
  • Umgebungsbedingungen während der Kalibrierung kontrollieren

Problem: Unzureichender Dynamikbereich

  • IF-Bandbreite und Mittelungseinstellungen optimieren
  • Externe Verstärkung für niedrige Signalpegel verwenden
  • Geeignete Abschirmung und Isolierung implementieren

Problem: Messdrift

  • Ausreichende Aufwärmzeit für Instrumente einplanen
  • Temperatur- und Feuchtigkeitsschwankungen kontrollieren
  • Regelmäßige Kalibrierungsüberprüfung durchführen

Wichtige Erkenntnisse

  • VNAs sind für genaue HF-Messungen mit ordnungsgemäßer Kalibrierung unerlässlich
  • S-Parameter bieten umfassende lineare Schaltungscharakterisierung
  • Zeitbereichsanalyse zeigt physikalisches Verhalten und Diskontinuitäten
  • Rauschzahl- und Leistungsmessungen erfordern spezialisierte Techniken
  • Nichtlineare Messungen charakterisieren reale Betriebsbedingungen

Verwandte Tools

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